स्वचालित दृष्टि माप प्रौद्योगिकी और इसके विकास की प्रवृत्ति

एक दृश्य निरीक्षण तकनीक के रूप में, छवि माप तकनीक को मात्रात्मक माप का एहसास करने की आवश्यकता है।माप सटीकता हमेशा इस तकनीक द्वारा अपनाई जाने वाली एक महत्वपूर्ण सूचकांक रही है।छवि माप प्रणाली आमतौर पर छवि जानकारी प्राप्त करने के लिए सीसीडी जैसे छवि सेंसर उपकरणों का उपयोग करती है, उन्हें डिजिटल सिग्नल में परिवर्तित करती है और उन्हें कंप्यूटर में एकत्र करती है, और फिर आवश्यक विभिन्न छवियों को प्राप्त करने के लिए डिजिटल छवि संकेतों को संसाधित करने के लिए छवि प्रसंस्करण तकनीक का उपयोग करती है।छवि समन्वय प्रणाली में छवि आकार की जानकारी को वास्तविक आकार की जानकारी में परिवर्तित करने के लिए अंशांकन तकनीकों का उपयोग करके आकार, आकृति और स्थिति त्रुटियों की गणना प्राप्त की जाती है।

हाल के वर्षों में, औद्योगिक उत्पादन क्षमता के तेजी से विकास और प्रसंस्करण प्रौद्योगिकी में सुधार के कारण, दो चरम आकार, अर्थात् बड़े आकार और छोटे आकार, के उत्पाद बड़ी संख्या में सामने आए हैं।उदाहरण के लिए, विमान के बाहरी आयामों को मापना, बड़ी मशीनरी के प्रमुख घटकों को मापना, ईएमयू माप।सूक्ष्म-घटकों का महत्वपूर्ण आयाम माप विभिन्न उपकरणों के लघुकरण की ओर रुझान, माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक्स और जैव प्रौद्योगिकी में महत्वपूर्ण सूक्ष्म-आयामों का माप आदि, सभी प्रौद्योगिकी का परीक्षण करने के लिए नए कार्य लाते हैं।छवि माप प्रौद्योगिकी की माप सीमा व्यापक है।बड़े और छोटे पैमाने पर पारंपरिक यांत्रिक माप का उपयोग करना काफी कठिन है।छवि माप तकनीक सटीकता आवश्यकताओं के अनुसार मापी गई वस्तु का एक निश्चित अनुपात उत्पन्न कर सकती है।माप कार्यों को पूरा करने के लिए ज़ूम आउट या ज़ूम इन करना यांत्रिक माप के साथ संभव नहीं है।इसलिए, चाहे वह सुपर-आकार माप हो या छोटे पैमाने पर माप, छवि माप तकनीक की महत्वपूर्ण भूमिका स्पष्ट है।

सामान्य तौर पर, हम 0.1 मिमी से 10 मिमी तक के आकार वाले भागों को सूक्ष्म भागों के रूप में संदर्भित करते हैं, और इन भागों को अंतरराष्ट्रीय स्तर पर मेसोस्केल भागों के रूप में परिभाषित किया जाता है।इन घटकों की परिशुद्धता आवश्यकताएं अपेक्षाकृत अधिक हैं, आमतौर पर माइक्रोन स्तर पर, और संरचना जटिल है, और पारंपरिक पता लगाने के तरीकों को माप आवश्यकताओं को पूरा करना मुश्किल है।सूक्ष्म घटकों के मापन में छवि माप प्रणाली एक सामान्य विधि बन गई है।सबसे पहले, हमें एक मिलान छवि सेंसर पर पर्याप्त आवर्धन के साथ एक ऑप्टिकल लेंस के माध्यम से परीक्षण के तहत भाग (या परीक्षण के तहत भाग की मुख्य विशेषताओं) की छवि बनानी चाहिए।आवश्यकताओं को पूरा करने वाले माप लक्ष्य की जानकारी वाली एक छवि प्राप्त करें, और छवि अधिग्रहण कार्ड के माध्यम से छवि को कंप्यूटर में एकत्र करें, और फिर माप परिणाम प्राप्त करने के लिए कंप्यूटर के माध्यम से छवि प्रसंस्करण और गणना करें।

सूक्ष्म भागों के क्षेत्र में छवि माप तकनीक में मुख्य रूप से निम्नलिखित विकास रुझान हैं: 1. माप सटीकता में और सुधार करें।औद्योगिक स्तर के निरंतर सुधार के साथ, छोटे भागों के लिए सटीक आवश्यकताओं में और सुधार किया जाएगा, जिससे छवि माप प्रौद्योगिकी की माप सटीकता में सुधार होगा।साथ ही, छवि सेंसर उपकरणों के तेजी से विकास के साथ, उच्च-रिज़ॉल्यूशन डिवाइस भी सिस्टम सटीकता में सुधार के लिए स्थितियां बनाते हैं।इसके अलावा, उप-पिक्सेल प्रौद्योगिकी और सुपर-रिज़ॉल्यूशन तकनीक पर आगे का शोध सिस्टम सटीकता में सुधार के लिए तकनीकी सहायता भी प्रदान करेगा।
2. माप दक्षता में सुधार करें।उद्योग में सूक्ष्म भागों का उपयोग ज्यामितीय स्तर पर बढ़ रहा है, 100% इन-लाइन माप और उत्पादन मॉडल के भारी माप कार्यों के लिए कुशल माप की आवश्यकता होती है।कंप्यूटर जैसी हार्डवेयर क्षमताओं में सुधार और छवि प्रसंस्करण एल्गोरिदम के निरंतर अनुकूलन के साथ, छवि मापने वाले उपकरण प्रणालियों की दक्षता में सुधार होगा।
3. सूक्ष्म घटक के बिंदु माप मोड से समग्र माप मोड में रूपांतरण का एहसास करें।मौजूदा छवि मापने वाली उपकरण तकनीक माप सटीकता द्वारा सीमित है, और मूल रूप से छोटे घटक में मुख्य सुविधा क्षेत्र की छवि बनाती है, ताकि मुख्य सुविधा बिंदु की माप का एहसास हो सके, और संपूर्ण समोच्च या संपूर्ण सुविधा को मापना मुश्किल है बिंदु।

माप सटीकता में सुधार के साथ, भाग की पूरी छवि प्राप्त करना और समग्र आकार त्रुटि की उच्च-सटीक माप प्राप्त करना अधिक से अधिक क्षेत्रों में उपयोग किया जाएगा।
संक्षेप में, सूक्ष्म घटक माप के क्षेत्र में, उच्च परिशुद्धता छवि माप प्रौद्योगिकी की उच्च दक्षता अनिवार्य रूप से सटीक माप प्रौद्योगिकी की एक महत्वपूर्ण विकास दिशा बन जाएगी।इसलिए, छवि अधिग्रहण हार्डवेयर सिस्टम ने छवि गुणवत्ता, छवि किनारे की स्थिति, सिस्टम अंशांकन इत्यादि के लिए उच्च आवश्यकताएं प्राप्त की हैं, और इसमें व्यापक अनुप्रयोग संभावनाएं और महत्वपूर्ण अनुसंधान महत्व है।इसलिए, यह तकनीक देश और विदेश में एक अनुसंधान हॉटस्पॉट बन गई है, और दृश्य निरीक्षण तकनीक में सबसे महत्वपूर्ण अनुप्रयोगों में से एक बन गई है।